插拔力測試案例
退APIN測試曲線
下一代串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)采用的高速率已經(jīng)進(jìn)入到微波領(lǐng)域。比如，即將到來的SuperSpeed USB(USB 3.0)通過雙絞線對線纜傳輸速的率就達(dá)到了5Gb/s。通過連接器和線纜傳輸如此高的速率必須考慮通道的不連續(xù)性引起的失真。為了將失真程度保持在一個(gè)可控的水平，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了線纜和連接器對的阻抗和回波損耗。最新的測量使用S參數(shù)S11表征而且必須歸一化到線纜的90歐姆差分阻抗。
當(dāng)測量USB 3.0通道的S參數(shù)時(shí)，可選的儀器是時(shí)域反射計(jì)或TDR。TDR系統(tǒng)通常往待測器件注入一個(gè)階躍電壓信號然后測量是時(shí)間函數(shù)的反射電壓。差分測量通過產(chǎn)生極性相反可相對定時(shí)的階躍電壓對實(shí)現(xiàn)。這篇文章中談到的都是差分信號。
Z0 是源阻抗，ZL(t)是待測器件的阻抗，r(t)是反射系數(shù)，Vr(t)/Vi(t)是入射和發(fā)射電壓的比率。式(1)假設(shè)到待測器件的源，線纜和連接器都是匹配的，但事實(shí)上這種情況很少見。為了補(bǔ)償線纜和連接器的不理想，參考平面校正（基線校正）通常進(jìn)行開路，短路，負(fù)載校準(zhǔn)。調(diào)整式 (1)可以得到待測器件的阻抗和時(shí)間（或距離）的函數(shù)，所以可以使用校準(zhǔn)過的TDR做阻抗測量。
當(dāng)測量USB 3.0通道的S參數(shù)時(shí)，可選的儀器是時(shí)域反射計(jì)或TDR。TDR系統(tǒng)通常往待測器件注入一個(gè)階躍電壓信號然后測量是時(shí)間函數(shù)的反射電壓。差分測量通過產(chǎn)生極性相反可相對定時(shí)的階躍電壓對實(shí)現(xiàn)。這篇文章中談到的都是差分信號。
Z0 是源阻抗，ZL(t)是待測器件的阻抗，r(t)是反射系數(shù)，Vr(t)/Vi(t)是入射和發(fā)射電壓的比率。式(1)假設(shè)到待測器件的源，線纜和連接器都是匹配的，但事實(shí)上這種情況很少見。為了補(bǔ)償線纜和連接器的不理想，參考平面校正（基線校正）通常進(jìn)行開路，短路，負(fù)載校準(zhǔn)。調(diào)整式 (1)可以得到待測器件的阻抗和時(shí)間（或距離）的函數(shù)，所以可以使用校準(zhǔn)過的TDR做阻抗測量。
